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集成電路 TUSB4020BIPHPR 失效分析報(bào)告

日期：2024-11-04 16:36:45 瀏覽量：1403 作者：創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

綜上測(cè)試分析，推測(cè)因ESD/EOS導(dǎo)致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。

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