分立器件 GRM21BR61H475KE51L 失效分析報告
日期：2024-11-04 16:25:50 瀏覽量：1223 作者：創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析，F(xiàn)2失效品因EOS導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
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綜上測試分析，F(xiàn)2失效品因EOS導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
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