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  靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗

  
  

  描述： ESD（Electro-Static discharge）的意思是“靜電釋放”。電荷從一個物體轉(zhuǎn)移到另一個物體。靜電是一種客觀的自然現(xiàn)象，產(chǎn)生的方式多種，如接觸、摩擦等。靜電的特點是高電壓、低電量、小電流和作用時間短的特點。

  EOS (Electrical Over stress)指所有的過度電性應(yīng)力。當(dāng)外界電流或電壓超過器件的最大規(guī)范條件時，器件性能會減弱甚至損壞。

  Latch up 是指cmos晶片中，在電源power VDD和地線 GND(VSS)之間由于寄生的PNP和NPN雙極性BJT相互影響而產(chǎn)生的一低阻抗通路。

  通過測試了解芯片組件脆弱點與靜電承受度，作為后續(xù)系統(tǒng)設(shè)計、芯片電路設(shè)計調(diào)整、甚至后續(xù)RMA失效分析的依據(jù)。

  
  

  應(yīng)用范圍：

  芯片零部件與成品模塊。

  
  

  測試模式：

  人體放電模式(Human Body Mode)測試；

  機器放電模式(Machine Mode) 測試；

  組件充/放電模式(Charged Device Mode) 測試；

  閂鎖效應(yīng)(Latch-up) 測試；

  靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up)；

  系統(tǒng)級靜電放電模式 (System ESD Test–ESD GUN TEST)；

  測試ESD I-V Curve量測；

  過度電性應(yīng)力EOS (Electrical Over stress)測試。

  
  

  
  

  
  

  檢測設(shè)備圖片：

  

  靜電槍與浪涌測試儀

  
  

  檢測優(yōu)勢：

  1、靜電測試儀和浪涌測試儀能快速，高效的對失效機理進行反向驗證；

  2、分析周期更短、效率更快。

  
  

  2025年11月18日 14:04