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  結構（Configuration）

  
  

  描述： 結構測試是參照對比被試器件總體結構的基準照片、草圖或圖紙。測試中應包括關鍵尺寸、各組成零件的位置、以及有關的材料和工藝細節(jié)。參照文件應是現(xiàn)行使用的，以便能反映出在結構方面已批準的任何變化。

  
  

  應用范圍：微電子器件。

  
  

  外部和內部目視圖片：

  
  

  

  

  
  

  外部和內部目視設備圖片：

  
  

  

  2025年07月03日 16:11