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  HCT測(cè)試（Heated Chemical Test）

  
  

  描述：HCT 是指將芯片放入化學(xué)試劑加熱到一定的溫度，通過(guò)化學(xué)試劑的腐蝕性剝離芯片表面的涂層，來(lái)驗(yàn)證芯片表面是否有磨痕，涂層，重新打字等問(wèn)題，測(cè)試棉簽變黑則為測(cè)試失敗。

  
  

  應(yīng)用范圍：通常配合外觀檢測(cè)來(lái)驗(yàn)證排除翻新貨。

  
  

  
  

  加熱化學(xué)測(cè)試圖片:

  
  

  

  測(cè)試通過(guò)      

  
  

                                                  

  

  測(cè)試失敗

  
  

  2025年03月07日 15:10